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机械振动 满满干货机械振动与简谐振动的区别-尊龙凯时首页

   日期:2022-12-17     作者:yl汽车网  联系电话:153-872-95596  浏览:21    
核心提示:产品目录:1.大别列兹尼区习题归纳2.大别列兹尼区和representing阻尼的差别3.大别列兹尼区和接触力习题4.大别列兹尼区表述5.大别

产品目录:

1.大别列兹尼区习题归纳

2.大别列兹尼区和representing阻尼的差别

3.大别列兹尼区和接触力习题

4.大别列兹尼区表述

5.大别列兹尼区张义民课外题标准答案

6.大别列兹尼区在生活中的应用领域

7.大别列兹尼区很大能造成接触力吗

8.大别列兹尼区和机械设备波的亲密关系

9.大别列兹尼区全称甚么

10.大别列兹尼区观念填空

1.大别列兹尼区习题归纳

aec-q100文档,是晶片积极开展车规级别校正的关键国际标准和辅导文档,责任编辑将重点工程项目对g组的第1项ms - mechanical shock机械设备冲击波工程项目展开如是说。

2.大别列兹尼区和representing阻尼的差别

aec q100 表单2中g组文本ms - mechanical shock 大别列兹尼区他们先看呵呵表单中文本的涵义表单中关键信息如是说和阐释表单中的关键信息得出,ms的展开分类是g1,notes中包涵了h d g,换句话说明确要求密闭电子元件、破坏力试验、宣称通用数据。

3.大别列兹尼区和接触力习题

市场需求的样本数目是15pcs/lot,源自1个批号拒绝接受国际标准是0失灵;参照文件是jedec jesd22-b104附加市场需求:只明确要求y1平面方向,5个脉冲,0.5毫秒持续时间,1500g峰值加速度试验前后要展开test试验。

4.大别列兹尼区表述

jedec jesd22-b104已经被jesd22-b110替换,所以他们来看呵呵jesd22-b110这个文档jesd22-b110b.01 mechanical shock – device and subassembly。

5.机械设备阻尼张义民课外题标准答案

1 适用范围机械设备冲击试验方法针对那些在自由状态下组装到印刷电路板上并应用领域于电气设备的这些电子元件该方法旨在确定电子元件和组件的兼容性,并且确认他们看能够承受中等强度的冲击组件是指一种把被测试样本在装配到印刷线路板的组合形式。

6.大别列兹尼区在生活中的应用领域

此校正模拟的情况是突然施加的外力,或由于搬运、运输或现场操作造成的运动突变而引起的机械设备冲击可能会影响产品的工作特性,特别是如果冲击波脉冲是重复的这是一种用于电子元件鉴定的破坏力试验2 校正设备市场需求冲击波冲击试验装置应能够提供峰值加速度高达重力的2900倍的冲击脉冲,速度变化为100至544厘米/秒(39至214英寸/秒),脉冲持续时间为0.3至8.0毫秒。

7.大别列兹尼区很大能造成接触力吗

对于自由状态试验,速度变化为每秒125到544厘米(每秒49到214英寸),脉冲持续时间在0.3到2.0毫秒之间就足够了相反,对于安装状态试验,装置的速度变化为100到544厘米/秒(39到214英寸/秒),脉冲持续时间在5.0到8.0毫秒之间的装置主体是足够的。

8.大别列兹尼区和接触力的亲密关系

加速度脉冲应该是半正弦波形,与规定的峰值加速度的允许偏差不大于±10%试验速度变化应为规定水平的±10%脉冲持续时间应在上升时间为峰值加速度的10%和衰减时间为峰值加速度的10%的点之间测量脉冲持续时间的绝对公差应为规定持续时间的±15%。

9.大别列兹尼区全称甚么

试验装置换能器的固有频率应大于所建立冲击脉冲频率的5倍,并通过带宽大于所建立冲击脉冲频率的5倍的低通滤波器展开测量产品筛选不应该用来代替实际的认证测量和流程在展开任何试验之前,应考虑设备校准,以确保符合规定的目标和可拒绝接受的公差。

10.大别列兹尼区观念填空

当需要试验新样本时,建议保留一套已知的golden sample用于试验前校准工作如果定期展开校准试验,则定期展开预防性维护应足以使设备满足目标和公差限制3 名词和表述组件:一种组合注1:举例组件可以包括作为晶体管组件的源极和漏极区域,作为封装集成电路组件的引线框和die,作为印刷电路板组件的电阻和集成电路,作为计算机组件的主板,作为显示器组件的lcd屏幕,造成复杂波形的交流和直流组件,以及作为软件程序组件的回路和算法。

注2:产品作为电子元件或部件的展开分类取决于所有者在对产品展开分类时的目的dead-bug (死虫子-特指电子元件方向):指引脚朝上的封装朝向live bug(活虫子-特指电子元件的方向):引脚朝下的封装朝向,例如,产品引脚放在平面上。

device:为服务于特殊目的或执行特殊功能而设计的设备、机构或其他实体的一部分注1:在jedec文档中,“device”一词通常用作这些文档范围内固态电子元件的类型或类型的缩写上下文可能另有所指;例如,在短语“the device used to hold the device under test"中,第一个“device”是指一种机构;第二个是指固态电子元件。

(编者注:device一词是整个aec q100文档翻译过程中最难的一个词,因为它又可以代表半导体电子元件又可以代表设备或者装置,有些时候需要结合上下文思考很久才知道原文说的是甚么意思)注2:产品作为电子元件或部件的展开分类取决于所有者在对产品展开分类时的目的。

偏离指定加速度[速度变化][脉冲持续时间]水平:测量值与目标值之间的最大差值等效落差高度:在真空中,在国际标准重力作用下,静止物体必须从自由落体高度落下,以达到与试验规范中规定的速度变化相等的速度注:这是当发生零反弹的撞击时,将造成指定速度变化的理论高度。

此高度仅供各种使用条件下参照自由状态:电子元件或组件被紧密地连接到试验仪器上,以便将规定的全部冲击水平传递到电子元件或组件本体上的状态安装状态:组件由试验夹具支撑的状态,使产品可以弯曲并模拟使用条件,并以一种方式将全部指定的冲击水平传输到组件主体。

峰值加速度:被试验样动态运动时的最大加速度脉冲持续时间:加速度第一次达到指定峰值水平的10%与加速度达到指定峰值水平后第一次回到指定峰值水平的10%之间的时间间隔说明脉冲的基本频率为1/ (2 × 脉冲时间)。

承受条件:应力严重程度的名称组件:印刷电路板及其上组装的电子元件,构成电气设备的一个单元或部分注意:电子元件最好位于印刷电路板的中心位置速度变化:加速度间隔对整个冲击持续时间的积分,至少包括脉冲持续时间间隔垂直方向:

与重力平行的方向,即垂直于地的归一化表面4 流程在使用前,应将冲击试验仪器安装在一个坚固的实验室工作台或底座上,并将其调平要做到防止因装置冲击波的“反弹”而导致重复冲击波发生的方式在自由状态下,除非另有说明,否则电子元件或组件应在三个正交轴(x、y、z)的正、负方向上分别遭受30次冲击,即所选使用条件(见表1)中规定的峰值加速度、速度变化和脉冲持续时间的5个冲击脉冲。

如果需要在安装状态下展开冲击试验,则组件应总共遭受12次冲击分别为所选使用条件(见表2)在三个正交轴(x、y、z)的正、负方向上指定的峰值加速度、速度变化和脉冲持续时间的两个冲击脉冲图1和图2分别表述了三个正交轴的电子元件朝向、正、负方向。

图1 - 活虫方式定位,在自由或安装状态下,电子元件的焊锡朝下

图2 - 死虫方式定位,在自由或安装状态下,电子元件的焊锡朝下根据所需的试验关键信息,可以执行两种类型的试验一种是在自由状态下试验电子元件或组件,另一种是在安装状态下试验组件拒绝接受试验的电子元件或组件应随机选择并具有典型的生产线代表。

在自由状态下,电子元件或组件应严格连接到试验仪器上,以便将完全规定的冲击水平传递到电子元件或组件本体上如果展开了安装状态试验,则安装到试验设备的方法应符合典型的使用条件如果电子元件或组件的返工、重用、重新安装、磨损或其他压力过程是可能的,则应在冲击试验之前对电子元件或组件展开这样一个或多个过程。

在试验硬件准备过程中使用这些过程应记录在案4.1 电子元件或组件处于自由状态在自由状态下展开试验的电子元件或组件必须至少符合表1所示的一种使用条件(a到h),并应记录在案指定的冲击应以模拟加工、包装和运输过程中预期冲击的方式施加于电子元件或组件本体上。

电子元件或组件应严格连接到试验仪器上,以使其在电子元件或组件本体上承受完全规定的冲击水平在指定的使用条件的严重程度上,应在三个正交轴的两个方向上各施加至少5次冲击(至少总共30次冲击)

表1 电子元件或组件自由状态试验级别表述(编者注:aec q100中的明确要求没有这么复杂,仅明确要求y1方向,1500g,0.5毫秒,5次脉冲,也就是相对于jesd22-b110里面的b国际标准即可)4.2 安装状态下的组件

如果需要,组件也应在安装状态下展开试验,但必须满足表2中所示的至少一项使用条件(1至14),并应记录在案指定的冲击应施加到安装在试验仪器上的组件上,该组件可以允许弯曲来模拟使用条件并固定在夹具上,以一种完全指定的冲击水平传递到组件主体的方式。

支持组件的首选方法是开槽/夹紧“边框”,或凸起凸台螺栓夹具,四个区域的接触点距离任何电子元件不超过一英寸组件、支撑方法、试验夹具安装尺寸以及组件的一个或多个最低谐振频率应予以记录在指定的使用条件的严重程度上,应在三个正交轴的两个方向上各施加至少两次冲击(至少总共12次冲击)。

当组件以模拟应用领域配置的方式安装时,将得到最佳试验效果如果该关键信息未知或不可用,则推荐用于试验组件pcb的jedec国际标准板卡(如jedec国际标准jesd51-9、jesd51-10和jesd51-11中所述),它可以展开修改,以包括电子元件和连接功能电路。

另外,如果jedec国际标准板卡的尺寸或结构不适合给定的电子元件,则应该使用印刷电路板,具有电子元件组件应用领域的典型尺寸、材料和结构,并应包括电路设计以试验组件上的电子元件的功能、连接性和损坏印刷布线板的尺寸和结构应记录在案。

使用组件应用领域硬件的试验结果是最直接的,应该优先于使用试验载具获得的结果

表2 固定组件试验级别4.3 测量如果需要,应展开密闭性试验、目视检查和电气测量(包括参数和功能试验)5 失灵国际标准如果电子元件或组件的密闭性明确要求(如果有的话)不能完成试验,如果超出了参数限制,或者不能在适用的拒绝接受国际标准文档规定的条件下完成功能,则电子元件或组件应被视为故障。

机械设备损伤,如电子元件部分的开裂、剥落或破碎,也应被视为故障,只要这种损伤不是由夹具固定或转运处理造成的,而且这种损伤对特定应用领域的性能至关关键组件失灵国际标准可能包括但不限于印刷电路板的焊接连接、兼容引脚、粘合剂、封装或底部填充,这些对电子元件或组件的可靠性有重大影响。

6 归纳下列细节应在适用的拒绝接受文档中做好规定:a)试验使用条件,针对所执行的每次试验b)电气测量c)样本量和拒绝接受数目d)故障的处理e)密闭泄漏率(如果适用)f)安装状态试验载具和夹具的描述(如果适用)g)电子元件试验前应力历史描述(如果适用)。

责任编辑对aec-q100 g组的第1项文本ms - mechanical shock 机械设备冲击波实验工程项目展开了如是说和阐释,希望对大家有所帮助材料整理制作不易,转发请注明出处,文章中不对的地方欢迎指教和交流沟通。

 
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